procedura
- lavaggio stack superlente preparata il 15/12/2010 con ACE (80 °C), IPA e asciugatura con N2
- disidratazione su hotplate a 115 °C per 5 min.
- coat con fotoresist S1805 diluito (per preparazione vedi procedura 2)
- puddle su tutto il campione
- 10 sec a 900 RPM compresa accelerazione
- 30 sec a 4000 RPM
- softbake 1 min @ 115 °C su hotplate
- esposizione 40 sec @ 15 mW/cm2 = 600 mJ su CI2
- sviluppo in MF-321 per 60 sec
- risciacquo sotto DI corrente per 60 sec
- asciugatura in N2
- esame al microscopio AFM
risultato: esposizione eccessiva - prossimo tentativo alla dose di 10" @ 15 mW/cm2 CI2.